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次世代晶片測試技術論壇：高速數位、電源、混合訊號與自動化驗證

3月19日週三

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集思竹科會議中心 4樓巴哈廳

時間和地點

2025年3月19日下午1:00 – 下午5:00 [GMT+8]

集思竹科會議中心 4樓巴哈廳, 新竹市工業東二路東區新竹科學園區1號

議程

下午1:30 - 下午1:35
5 分鐘
Opening
下午1:35 - 下午2:20
45 分鐘
突破高速數位測試的極限—從阻抗量測到 Jitter 分析

還有 4 個可用項目

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