IC Common Test Requirements

半導體驗證測試過程中，為確保產品的品質、性能和可靠性，電子訊號量測的常見測試項目包括：

1. 靜態電流量測 (Iddq)：測量晶片在靜態條件下的漏電流，可用於檢查製程缺陷和電路故障。

2. 供應電壓量測 (Vdd)：測量晶片的工作電壓，確保其在正常範圍內。

3. 電源電流量測 (Idd)：測量晶片在工作過程中的電源電流，以評估功耗和性能。

4. 電容量測：測量晶片上的電容值，以評估製程和布局的正確性。

5. 電阻量測：測量晶片上的電阻值，以評估製程和布局的正確性。

6. 時序量測：測量晶片上的時序特性，如脈沖寬度、時脈週期和設定與保持時間等，確保電路功能正常。

7. 雜訊量測：測量晶片上的雜訊特性，如電源雜訊、共模雜訊和環路雜訊等，確保電路性能穩定。

8. 工作溫度量測：測試晶片在不同溫度下的性能，以確保其在規定的溫度範圍內正常運行。

9. 頻率響應量測：測量晶片在不同頻率下的性能，以評估頻率響應特性。

10. 失真量測：測量晶片上的信號失真，如總諧波失真和交叉失真等，以確保信號品質。

根據產品類型和設計要求，測試驗證工程師可能還需要進行其他特定的量測項目。