混合訊號晶片 ADC 自動化驗證方案
在現代半導體 IC 設計中，ADC (類比轉數位轉換器) 扮演著關鍵角色，其性能直接影響系統的訊號品質與處理效率。然而，ADC 的測試充滿挑戰，包括如何準確量測非線性指標（如INL、DNL）、動態參數（如SNR、THD）以及確保訊號完整性。為達到高精度與高效率，測試方案通常結合高解析度的訊號產生器(Signal Generator)、低噪訊示波器，搭配專業的自動化軟體進行數據收集與分析。透過此一完整解決方案，工程團隊能有效縮短驗證時程，同時確保ADC產品在量產階段的品質與可靠度，提升競爭力。
ADC 自動化驗證方案
ADC 自動化驗證方案
ADC 量測指標
-
基本功能測試
-
Full-Scale Error（滿量程誤差）、Gain Error（增益誤差）、Offset Error（偏移誤差）
-
-
非線性指標測試
-
INL（積分非線性誤差）
-
DNL（微分非線性誤差）
-
使用直方圖（Histogram Test）分析輸出碼分佈，驗證轉換器線性品質
-
-
交流性能測試
-
SNR（訊噪比）、SINAD（訊噪與失真比）、THD（總諧波失真）、SFDR（無雜散動態範圍）、ENOB（有效位元數）
-
方案優勢與組成
-
精準、模組化的測試儀器
-
高速、高解析度、低雜訊的Analog Signal Generator – R&S SMA100B
-
數位碼型擷取與控制模組：NI PXIe-6571
-
精準電源供應模組：NI PXIe-4139 (SMU)
-
-
自動化驗證軟體 OneTest
-
無需寫程式 (no code) 即可進行自動化測試
-
使用者可自行定義測試排程、測試條件、數據與報表呈現
-
具備現成的ADC 測試函式庫 (如：INL、DNL、SNR、SINAD、SFDR、THD、ENOB等)
-
支援常見的儀器廠牌與型號
-
測試儀器列表
-
Channels: 1 (Quardrant)
-
Range: +/- 60V, 3A
-
Resolution: 100nV / 100fA
SMU | PXIe - 4139
-
Digital: -2-6V
-
PPMU: -2-7V, 32mA
-
Channels: 32/Module
-
Data Rate: 200bps max
-
Vector Depth: 128M/CH
Digital Instruments | PXIe-6571
-
Frequency: 8kHz - 67 GHz
-
Outpout Power: 30dbM
-
Clock Output: up to 6GHz
-
SSB Noise: -152 dBc at 1GHz
Signal Source | SMA100B
ADI 的 LTC2255 (14-bit SAR) 經由R&S / NI儀器實測的動態測試項目數據：SNR, SINAD, SFDR
ADI 的 LTC2255 (14-bit SAR) 經由R&S / NI 儀器實測的靜態測試項目數據：DNL