半導體晶片的矽後驗證（Post-Silicon Validation）是產品生命周期中極為關鍵的一環，往往伴隨高度的時程壓力與成本風險。詠測科技專注於為晶片設計產業提供完整的 Turn-key 驗證解決方案，整合 Rohde & Schwarz 儀器平台、Soliton 數位協定驗證工具與自動化測試軟體，協助客戶有效加速測試流程、強化驗證覆蓋率。

 

我們的解決方案涵蓋：

• 類比數位轉換器（ADC）的 靜態參數（INL/DNL）與動態特性（SNR、ENOB、FFT）分析。

• 電源管理 IC（PMIC）的 負載調整率（Load regulation）、負載瞬變響應（Load transient）、輸出漣波（Ripple）與效率（Efficiency）掃描測試。

• I3C 數位協定介面之 DC/AC 特性驗證、錯誤注入與自動化測試報告產出。

​​

詠測科技致力於成為您在矽後驗證流程中的可靠夥伴，協助團隊降低風險、提升效能，加速晶片產品上市時程。